YDP20-0CEV1賽多利斯天平打印機 符合實驗室GLP/GMP規(guī)范要求,數(shù)據(jù)可追溯 數(shù)據(jù)統(tǒng)計: 可以對多份樣品稱重數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計計算,包括:測量次數(shù)、平均值、標準偏差、偏差系數(shù)、總和、大值、小值、偏差。
更新時間:2024-08-24
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